Analyseur de front d'onde proche infrarouge

L'analyseur de front d'onde proche infrarouge qui combine la technologie brevetée de diffraction à quatre ondes codées aléatoirement avec une caméra infrarouge permet d'effectuer des mesures d'interférences par des systèmes d'imagerie ordinaires. Il présente un niveau exceptionnellement élevé de résistance aux vibrations et de stabilité, permettant des mesures de précision au niveau nanométrique sans avoir besoin d'isolation vibratoire. Il convient à la mesure de la distribution du réseau interne des matériaux, ainsi qu'aux mesures du front d'onde des métasurfaces et des hyperlentilles.

Spécification de l'article :

Caractéristique de l'analyseur de front d'onde proche infrarouge BOJIONG

◆ Bande à large spectre de 900 nm à 1 200 nm

◆ Résolution de phase élevée RMS de 2 nm

◆Ultra haute résolution de 512 × 512 (262 144) points de phase

◆ Auto-interférence lumineuse à canal unique, aucune lumière de référence requise

◆Grande plage dynamique jusqu'à 270 μm

◆ Performances anti-vibrations extrêmement fortes, pas besoin d'isolation optique des vibrations

◆Tout comme l'imagerie, construction de chemin optique simple et rapide

◆Prend en charge les faisceaux collimatés et les grands faisceaux convergés NA

Application de l'analyseur de front d'onde proche infrarouge BOJIONG

Cet analyseur de front d'onde proche infrarouge BOJIONG utilisé dans la mesure de l'aberration du système optique, l'étalonnage du système optique, la mesure de la distribution du réseau interne des matériaux, l'hypersurface, la mesure du front d'onde hyperlens.

Détails de l'analyseur de front d'onde proche infrarouge BOJIONG

Analyseur de front d'onde proche infrarouge BOJIONG développé par une équipe de professeurs de l'Université du Zhejiang et de l'Université technologique de Nanyang de Singapour, avec une technologie nationale brevetée, il combine la diffraction et l'interférence pour obtenir une interférence de cisaillement transversal à quatre ondes commune, avec une sensibilité de détection supérieure et un anti- performances de vibration et peut réaliser une interférométrie dynamique en temps réel et à grande vitesse sans isolation vibratoire. La mesure en temps réel montre une fréquence d'images de plus de 10 images. Dans le même temps, le capteur FIS4 a une résolution de phase ultra-élevée de 512 × 512 (260 000 points de phase), la bande de mesure couvre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilité de mesure atteint 2 nm et la répétabilité de mesure est meilleure que 1/1000λ ( RMS). Il peut être utilisé pour l'analyse de la qualité du faisceau laser, la détection du champ d'écoulement plasma, la mesure en temps réel de la distribution du champ d'écoulement à grande vitesse, l'évaluation de la qualité de l'image du système optique, la mesure du profil microscopique et l'imagerie de phase quantitative des cellules biologiques.