Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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Capteur de front d'onde FIS4 (version réfrigérée) 900-1200 nm

Capteur de front d'onde FIS4 (version réfrigérée) 900-1200 nm

Bojiong est l'un des principaux fournisseurs et en gros de capteurs de front d'onde proche infrarouge en Chine, avec un accent de longue date sur la recherche et le développement et l'application industrielle des technologies de mesure optique haut de gamme. Notre produit de base, le capteur de front d'onde Fis4 proche infrarouge (version réfrigérée) 900-1200 nm, offre une réponse rapide très flexible, permettant une réponse rapide aux besoins en évolution des clients et une adaptation précise à divers scénarios d'application. Nous fournissons constamment aux clients des solutions complètes et rentables grâce à une philosophie de service profondément collaborative et des prix compétitifs. Nous sommes impatients de travailler avec vous, de grandir ensemble et de devenir des partenaires à long terme.


Capteur de front d'onde FIS4 Proche-infrarouge (version réfrigérée) 900-1200 nm

LeBojiong Capteur de front d'onde FIS4 NIR-C 900-1200 nmest conçu pour exiger des applications optiques infrarouges. Il intègre un système de refroidissement à semi-conducteur de haute précision sur le capteur du front d'onde FIS4 proche infrarouge. Cela stabilise activement la température du détecteur de base inférieur à -10 ° C ambiant, supprimant considérablement le courant sombre et le bruit thermique, et réalisant une stabilité de mesure ultra-élevée de RMS 2 nm. Couvrant la bande proche infrarouge 900–1200 nm, le capteur possède une résolution spatiale ultra-élevée de 512 × 512 et une large plage dynamique de ≥260 μm, permettant une analyse claire de la distorsion du front d'onde et de la distribution de phase de lasers haute puissance, de dispositifs de métasurface et de semi-conducteurs à base de silicium dans les infrarouges.

 

Bojiong Fiis4 nir-c capteur de front d'onde900-1200 nm Introduction

LeBojiong Capteur de front d'onde FIS4 (version réfrigérée) 900-1200 nmest la nouvelle génération de l'équipement d'inspection optique de haute précision de notre entreprise, avec une excellente résistance aux vibrations et des capacités de mesure du front d'onde en temps réel. Le capteur du front d'onde FIS4 NIR-C adhère au système de gestion de la qualité ISO 9001 strict et est certifié par le China Institute of Metrology (NIM). Il est livré avec une garantie d'un an. Le capteur du front d'onde FIS4 NIR-C utilise une conception optique interférométrique de chemin commun et un algorithme de reconstruction du front d'onde en temps réel pour obtenir une mesure du front d'onde de haute précision sans déphasage, ce qui le rend adapté à une variété d'applications de recherche scientifique et industrielle exigeante.

 

Bojiong Capteur de front d'onde FIS4 NIR-C 900-1200 nm Paramètre (spécification)

Source légère

Laser continu, laser pulsé LED; Lampe halogène et autres larges

Sources de lumière du spectre

Plage de longueurs d'onde

900 ~ 1200 nm

Taille cible

13.3MM ×13.3MM

Résolution spatiale

26μm

Résolution de sortie de phase

512×512

Précision absolue

15RMRM

Résolution de phase

≤2 nmrms

Plage dynamique

260μm

Taux d'échantillonnage

30FPS

Vitesse de traitement en temps réel

5HZÀ pleine résolution

Type d'interface

Interface réseau

Taille

70MM ×71MM ×68.5MM

Poids

À propos380g

Méthode de refroidissement

Réfrigération de semi-conducteurs

 

Bojiong Capteur de front d'onde FIS4 NIR-C 900-1200 nm Fonctionnalité et application

Depuis 2006, l'équipe du professeur Yang Yongying à l'Université de Zhejiang a développé avec succès le capteur d'onde de la série FIS4 à large spectre, basé sur une structure interféromètre de chemin commun et des algorithmes de reconstruction du front d'onde en temps réel. Après 17 ans de recherche continue, ce produit offre les principaux avantages suivants:

· Excellente résistance aux vibrations, aucune plate-forme d'isolement des vibrations requise;

· Sensibilité au niveau du nanomètre, avec une sensibilité à la mesure du front d'onde atteignant jusqu'à 2 nm RMS;

· Conception intégrée de chemin unique optique, innovante en utilisant une structure de chemin unique optique, aucun chemin optique de référence nécessaire;

· Fonctionnement convivial;

· Compact et portable, facile à transporter, adapté à diverses intégrations et applications sur place

LeCapteur de front d'onde FIS4 (version réfrigérée) 900-1200 nmest conçu pour l'inspection et la mesure optiques de haute précision, adaptées à l'inspection industrielle, à la recherche scientifique et aux applications de défense. Avec une haute résolution de 512 × 512 (262 144) points de phase, le capteur atteint une mesure de front d'onde de haute précision sur une large plage spectrale de 900 à 1200 nm et prend en charge l'affichage 3D en temps réel à 10 images par seconde à pleine résolution. Les applications typiques incluent l'analyse d'aberration du système optique, l'étalonnage optique, la détection de distribution de réseau interne du matériau, la caractérisation de métasurface et le front d'onde métalluentes, etc., fournissant des outils fiables pour une mesure optique haut de gamme.

 

Bojiong Capteur de front d'onde FIS4 NIR-C 900-1200 nm  Application

Exemple de mesure d'aberration dans les systèmes optiques

 

Exemple de mesure de la distribution interne du réseau des matériaux

 

Exemple de mesure d'étalonnage du système optique

Exemple de mesure du front d'onde sur les métasurfaces

 

Exemple de mesure du front d'onde de super lentille

 

 

 

Bojiong Capteur de front d'onde FIS4 NIR-C 900-1200 nm Détails

 

LeCapteur de front d'onde FIS4 (version réfrigérée) 900-1200 nmUtilise la technologie de diffraction à quatre ondes codé à quatre ondes pondérée, en tirant parti d'une source de lumière à un chemin pour atteindre l'auto-interférence du front d'onde mesuré, avec des interférences se produisant au plan de l'image arrière. Cette technologie réduit considérablement la dépendance à la cohérence de la source lumineuse, éliminant la nécessité d'un déphi-déphi-et permettant une interférométrie de haute précision lorsqu'elle est combinée avec un système d'imagerie standard. Par rapport aux capteurs Hartmann traditionnels basés sur des réseaux de microlens, le capteur FIS4 NIR-C WAVEFRONT surpasse les interféromètres à double faisceau traditionnels, offrant des avantages de performances significatifs dans plusieurs domaines: des points de phase à plus haute résolution, une adaptabilité de bande d'exploitation plus large et une plus grande gamme dynamique, tout en offrant une performance de coût supérieure, offrant une solution fiable pour une large gamme d'applications d'inspection optique supérieure.

 

Fig.

 

Fig.2. Reconstruction du front d'onde carré de laleast à partir d'interférogramme de cisaillement latéral à quatre ondes

 

 

LeCapteur de front d'onde FIS4est un excellent outil dans les domaines de la recherche scientifique et de l'inspection industrielle. Il combine intelligemment de nombreux avantages tels que la compacité, la stabilité élevée, une excellente résolution temporelle et une bonne compatibilité du système, ce qui en fait un outil de base dans les domaines connexes.

En termes d'applications, son histoire de développement témoigne de sa forte adaptabilité et de sa évolutivité. Initialement, leCapteur de front d'onde FIS4a été principalement utilisé pour les tâches d'inspection de base dans les ateliers optiques. Par exemple, dans l'analyse de qualité des composants optiques, il peut évaluer avec précision si la qualité des composants répond aux normes, en tirant parti de ses capacités de détection de haute précision. Dans le diagnostic du faisceau laser, il peut analyser méticuleusement divers paramètres du faisceau laser, offrant une base fiable pour l'optimisation et l'ajustement ultérieurs. De plus, dans le domaine du contrôle de l'optique adaptative, il joue également un rôle pivot, facilitant un contrôle optique précis.

De nos jours, la portée de l'application duCapteur de front d'onde FIS4a été largement étendu. Dans le domaine de l'imagerie par microscopie biologique, il permet aux chercheurs d'observer plus clairement les microstructures biologiques. Dans le suivi des nanoparticules, il peut suivre précisément la trajectoire de mouvement et d'autres informations clés des nanoparticules. Dans le travail de mesure de la métasurface, il fournit des données de mesure précises, facilitant des recherches approfondies. Dans divers domaines tels que la caractérisation thermodynamique, il démontre également une valeur indispensable.

Du point de vue des caractéristiques structurelles, leCapteur de front d'onde FIS4possède une conception compacte et exquise, ce qui lui permet d'être facilement intégré dans les systèmes de microscope existants et d'élargir considérablement ses scénarios d'application. De plus, il possède d'excellentes capacités anti-vibration, garantissant une précision de mesure même dans des environnements externes difficiles. Cela garantit que les résultats de détection ne sont pas affectés par les interférences externes, assurant la stabilité et la fiabilité.

Il convient de mentionner que la fonction d'imagerie à exposition unique duCapteur de front d'onde FIS4est très avantageux, en particulier pour enregistrer des processus dynamiques rapides. Dans le domaine de la recherche biomédicale, avec cette fonction, il a réussi à obtenir l'observation en temps réel à haute résolution sans étiquette de diverses cellules vivantes telles que COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK et neurones, fournissant un puissant outil d'observation pour la recherche biomédicale.

De plus, ce capteur prend en charge l'imagerie de retard de phase à contraste élevé, ce qui permet une visualisation claire des structures anisotropes telles que les fibres de collagène et les cytosquelettes, fournissant une base d'image claire pour des recherches approfondies sur les structures biologiques connexes. En outre, sa plage d'applications a été étendue à l'imagerie de phase dans les bandes de rayons X, infrarouge et infrarouge à longue et à long terme, démontrant une valeur significative dans l'analyse des métasurfaces et des matériaux bidimensionnels, et entraînant efficacement les progrès de la recherche dans ces champs frontaliers.



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