Ultra-haute résolution de 512 × 512 (262 144) points de phase, permettant une mesure de front d'onde de haute précision dans la bande de 900 nm à 1 200 nm, qui peut être utilisée pour la mesure d'aberration du système optique, l'étalonnage du système optique, la mesure de la distribution du réseau interne du matériau, la métasurface, la superlentille.mesure du front d'onde, etc.
Le capteur interférométrique à quatre ondes proche infrarouge FIS4-NIR combine la technologie brevetée de diffraction à quatre ondes codées aléatoirement avec une caméra infrarouge et interfère au niveau de la position du plan d'image arrière. Il présente de faibles exigences en matière de cohérence de la source lumineuse et ne nécessite pas de déphasage. Les systèmes d'imagerie ordinaires peuvent réaliser des mesures interférométriques. Il a une résistance aux vibrations ultra-élevée et une stabilité ultra-élevée, et peut atteindre une mesure de précision de niveau nm sans isolation vibratoire.
Principales caractéristiques
◆ Ultra haute résolution de 512 × 512 (262 144) points de phase
◆ Auto-interférence lumineuse à trajet unique, aucune lumière de référence requise
◆ Bande à large spectre de 900 nm à 1 200 nm
◆ Résolution de phase élevée de 2 nm RMS
◆ Large plage dynamique jusqu'à 270 μm
◆ Résistance aux vibrations extrêmement forte, pas besoin d'isolation optique des vibrations
◆ Construction de chemin optique simple et rapide comme l'imagerie
◆ Supporte les faisceaux collimatés et les grands faisceaux convergents NA
Applications du produit
Mesure d'aberration du système optique, étalonnage du système optique, mesure de la distribution du réseau interne du matériau, métasurface, mesure du front d'onde du superlentille.
