L'analyseur de front d'onde à ultra haute résolution offre une excellente résistance aux vibrations, garantissant des mesures fiables même sans l'utilisation d'une plate-forme d'isolation des vibrations. Il atteint une précision de niveau nanométrique dans les données. Il excelle dans l’analyse des microprofils de surface, avec une très haute résolution de 512×512, équivalant à 262 144 points de phase, garantissant une couverture complète pour une analyse détaillée. Sa large plage de réponse spectrale de 400 à 1 100 nanomètres le rend adapté à diverses sources lumineuses. De plus, il offre un affichage des résultats 3D en pleine résolution en temps réel à une fréquence de 10 images par seconde, offrant une vue dynamique et immédiate des données du front d'onde. Cela en fait une solution complète pour les besoins de détection et de mesure du front d’onde.
Nom du produit |
Analyseur de front d'onde ultra haute résolution |
Gamme de longueurs d'onde |
400 nm ~ 1 100 nm |
Taille cible |
7,07 mm × 7,07 mm |
Résolution spatiale |
23,6 μm |
Résolution d'échantillonnage |
2048×2048 |
Résolution de phase |
300 × 300 (90 000 pixels) |
Précision absolue |
<2nmRMS |
Plage dynamique |
10 nmRMS |
Taux d'échantillonnage |
110 μm (150 lm) |
Vitesse de traitement en temps réel |
24 images par seconde |
Type d'interface |
10 Hz (en pleine résolution) |
Dimension |
HACHER |
Poids |
56,5 mm × 43 mm × 41,5 mm |
Gamme de longueurs d'onde |
environ 120g |
◆Ultra haute résolution de 512 × 512 (262 144) points de phase
◆ Bande à large spectre de 400 nm à 1 100 nm
◆ Auto-interférence lumineuse à canal unique, aucune lumière de référence requise
◆ Résolution de phase élevée RMS de 2 nm
◆Tout comme l'imagerie, construction de chemin optique simple et rapide
◆résistance aux vibrations ultra-élevée, pas besoin d'isolation optique des vibrations
◆Prend en charge les faisceaux collimatés et les grands faisceaux convergés NA
Cet analyseur de front d'onde ultra haute résolution BOJIONG utilisé dans la détection du front d'onde du faisceau laser, l'optique adaptative, la mesure de la forme de la surface, l'étalonnage du système optique, la détection de fenêtre optique, le plan optique, la mesure de la forme de la surface sphérique, la détection de la rugosité de la surface.
détection du front d'onde du faisceau laser |
Mesure optique de la forme d'une surface plane |
Mesure optique de la forme d'une surface sphérique |
Mesure d'aberration des systèmes optiques |
Détection optique des morceaux de fenêtre |
Mesure de la répartition du réseau à l'intérieur du matériau |
Optique adaptative - réponse de détection de front d'onde en mode Zernike |
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Analyseur de front d'onde à ultra haute résolution BOJIONG développé par une équipe de professeurs de l'Université du Zhejiang et de l'Université technologique de Nanyang de Singapour, avec une technologie nationale brevetée, il combine la diffraction et l'interférence pour obtenir une interférence de cisaillement transversal à quatre ondes commune, avec une sensibilité de détection supérieure et anti- performances de vibration et peut réaliser une interférométrie dynamique en temps réel et à grande vitesse sans isolation vibratoire. La mesure en temps réel montre une fréquence d'images de plus de 10 images. Dans le même temps, le capteur FIS4 a une résolution de phase ultra-élevée de 512 × 512 (260 000 points de phase), la bande de mesure couvre 200 nm ~ 15 μm, la sensibilité de mesure atteint 2 nm et la répétabilité de mesure est meilleure que 1/1000λ ( RMS). Il peut être utilisé pour l'analyse de la qualité du faisceau laser, la détection du champ d'écoulement plasma, la mesure en temps réel de la distribution du champ d'écoulement à grande vitesse, l'évaluation de la qualité de l'image du système optique, la mesure du profil microscopique et l'imagerie de phase quantitative des cellules biologiques.
FIS4 Paramètres techniques de chaque série de produits |
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Produit |
FIS4-UV |
FIS4-RH |
HORLOGE FIS4 |
FIS4-HS |
Cellule FIS4 |
FIS4-NIR |
Gamme de longueurs d'onde |
200 ~ 450 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
400 ~ 1100 nm |
900 ~ 1200 nm |
Taille cible mm² |
13,3 × 13,3 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
10,24 × 10,24 |
7,07 × 7,07 |
13,3 × 13,3 |
Résolution spatiale |
26μm |
23,6 μm |
26μm |
24,4 μm |
23,6 μm |
26μm |
Pixels de l'image |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
Résolution de sortie de phase |
512×512 (262144 pixels) |
300 × 300 (90 000 pixels) |
512 × 512 (262 144 pixels) |
420 × 420 (176 400 pixels) |
300 × 300 (90 000 pixels) |
512 × 512 (262 144 pixels) |
Résolution de phase |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
Précision absolue |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15nmRMS |
10 nmRMS |
10 nmRMS |
15nmRMS |
Plage dynamique |
90 μm (256min) |
110 μm (150min) |
162 μm (256min) |
132μm (210min) |
110 μm (150min) |
270 μm (256min) |
Taux d'échantillonnage |
32 images par seconde |
24 images par seconde |
45 images par seconde |
107 images par seconde |
24 images par seconde |
45 images par seconde |
Vitesse de traitement en temps réel |
10Hz (Pleine résolution) |
10Hz (Pleine résolution) |
10Hz (Pleine résolution) |
10Hz (Pleine résolution) Prend en charge le traitement par lots retardé |
10Hz (Pleine résolution) |
10Hz (Pleine résolution) |
Type d'interface |
USB3.0 |
HACHER |
USB3.0 |
HACHER |
HACHER |
USB3.0 |
Interface externe |
- |
- |
- |
- |
Port C |
- |
Taille mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
poids |
environ240g |
environ120g |
environ240g |
environ120g |
environ120g |
environ240g |
Adresse
No. 578 Yingkou Road, district de Yangpu, Shanghai, Chine
Tél